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德國 Gigahertz-Optik BTS2048-UV 是一款高品質(zhì)緊湊型光譜輻射計(jì)，用于紫外測量。
? 高雜散光減少（BTS2048-UV-S 的減少濾光片版本）。
? 超快速接口和電子快門。
? 高光學(xué)分辨率。
? 適合各種測量任務(wù)（UV LED、氘燈、鎢絲燈到太陽輻射）。
? 高雜散光減少有助于將精確校準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為精確測量。
用于 BTS2048-UV 的 S-BTS2048 軟件
傳統(tǒng) CCD 探測器的光譜響應(yīng)度通常在 200 nm 至 430 nm 范圍內(nèi)。通常，CCD 探測器的這種寬光譜響應(yīng)度范圍被稱為光譜輻射計(jì)的響應(yīng)度范圍。然而，這沒有考慮色散光柵的光譜響應(yīng)函數(shù)，這進(jìn)一步降低了探測器在紫外光譜中的響應(yīng)度。這會導(dǎo)致紫外線測量信號產(chǎn)生顯著誤差，主要是通過長波雜散光產(chǎn)生的。寬帶光譜儀的光譜分辨率通常不足以保證窄帶 UV LED 等的精確測量。
專為紫外線輻射設(shè)計(jì)的 CCD 光譜輻射計(jì)具有有限的光譜范圍，并且具有非常高的光柵效率和非常高的光譜分辨率。此外，濾光片還可用于顯著減少雜散光。
BTS2048-UV 滿足高端紫外二極管陣列光譜儀的所有要求，盡管采用尖端技術(shù)，但價(jià)格極具吸引力。
BiTec 傳感器的一項(xiàng)獨(dú)特功能是背照式 CCD 光譜儀和硅光電二極管的組合，可提供高線性度，從而實(shí)現(xiàn)極快的測量。具有熱電冷卻功能的全線性化 2048 像素 CCD 探測器由于其積分時(shí)間范圍為 2 μs 至 60 s，因此可提供非常寬的動態(tài)范圍。這樣可以在較寬的強(qiáng)度范圍內(nèi)精確測量 UV LED。該設(shè)計(jì)在 190 nm 至 430 nm 的整個光譜測量范圍內(nèi)提供 0.8 nm 的高光學(xué)分辨率。該光譜儀還配備了兩個光學(xué)濾波器，用于自動低雜散光測量。在存在其他光源的情況下，此類測量對于寬帶 UV 燈和 UV LED 是必要的。 BiTec 探測器內(nèi)的極高線性度 SiC 光電二極管用于 CCD 的線性化或用作參考探測器。 SiC 光電二極管的輻射響應(yīng)度功能使其能夠獨(dú)立于 CCD 使用?？梢允褂孟鄳?yīng)的光譜數(shù)據(jù)自動校正輻射精度。因此，該設(shè)備可用于對非常微弱的信號執(zhí)行快速測量，這使得 BTS20418-UV 非常適合集成在測角儀中。盡管尺寸緊湊（103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米 – 長 x 寬 x 高），BTS2048-UV 分光輻射度計(jì)仍配有一個遙控濾光輪，其中有兩個光學(xué)濾光片和一個用于暗測量的快門。
為了促進(jìn) CCD 傳感器動態(tài)范圍的最佳使用并克服大多數(shù)陣列光譜輻射計(jì)在紫外范圍內(nèi)的問題，在光束路徑中放置了一個遙控濾光輪（打開、關(guān)閉、光學(xué)濾光片）。該濾波器與智能測量和雜散光校正程序相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn) BTS2048-UV 的高質(zhì)量測量。
BTS2048-UV 針對其他紫外線源的一般測量進(jìn)行了優(yōu)化。 Gigahertz-Optik 的雜散光校準(zhǔn)技術(shù)與進(jìn)一步的智能測量程序相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)卓越的雜散光抑制?？筛鶕?jù)要求選擇性地提供 BTS2048-UV 附加雜散光校正矩陣的校準(zhǔn)。
多年的經(jīng)驗(yàn)及其設(shè)備齊全的 DAkkS 校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室 (DK-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能夠提供低至 200 nm 的可追溯校準(zhǔn)。這拓寬了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的應(yīng)用范圍。對于短波光譜范圍，Gigahertz-Optik GmbH 實(shí)施了一種特殊的基于氘燈的校準(zhǔn)策略。
BTS2048-UV 非常適合工業(yè)應(yīng)用中的 UV 前端和后端 LED 測試。其 CCD 探測器在觸發(fā)測量之前集成了所有像素的電子調(diào)零功能（電子快門）。當(dāng)測試 LED 在脈沖電流模式下運(yùn)行時(shí)，電子快門和測量觸發(fā)可通過觸發(fā)端口與電源同步。強(qiáng)大的微處理器只需 7 毫秒即可通過快速 LAN 接口將完整的數(shù)據(jù)集傳輸?shù)较到y(tǒng)計(jì)算機(jī)。
BTS2048-UV 光譜輻射計(jì)具有擴(kuò)散器窗口，因此可用于測量 UV 輻照度，包括。光譜和峰值波長，無需任何額外的配件。通過擴(kuò)散窗，BTS2048-UV 還可以直接安裝在積分球、輻射透鏡和測角儀等附件上，以測量輻射功率、輻射率和輻射分布。
標(biāo)準(zhǔn)S-BTS2048 用戶軟件具有可定制的用戶界面，并提供大量顯示和功能模塊，在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相應(yīng)配件配置 BTS2048-UV 時(shí)可以激活這些模塊。提供S -SDK-BTS2048 開發(fā)者軟件，用于將 BTS2048-UV 集成到客戶自己的軟件中。
光度測量設(shè)備的一項(xiàng)基本質(zhì)量特征是其精確且可追溯的校準(zhǔn)。 BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的ISO/IEC 17025 校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行校準(zhǔn)，該實(shí)驗(yàn)室根據(jù) ISO/IEC 17025的光譜響應(yīng)度和光譜輻照度獲得 DAkkS (DK-15047-01-00) 認(rèn)可。校準(zhǔn)還包括相應(yīng)的附件組件。每臺設(shè)備均附有各自的校準(zhǔn)證書。
| （1）常規(guī)參數(shù) | |||
| 簡短的介紹 | UV 優(yōu)化的 TE 冷卻 CCD 光譜儀具有寬動態(tài)范圍，適用于 CW 和輻照度、光譜和峰值波長的短期測量。其他參數(shù)的配件。 | ||
| 主要特點(diǎn) | 設(shè)備緊湊。 BiTec 探測器，配備背照式 TE 冷卻 CCD（2048 像素、0.8 nm 光學(xué)分辨率、電子快門）和 SiC 光電二極管。光學(xué)帶寬校正（CIE214）。帶快門和邊緣濾鏡的濾鏡輪。帶擴(kuò)散窗的輸入透鏡。余弦視場。 | ||
| 測量范圍 | 3E-5 W/(m2nm) 至 3E4 W/(m2nm) @325nm。響應(yīng)度從 190 nm 到 430 nm。 | ||
| 典型應(yīng)用 | 用于設(shè)計(jì)應(yīng)用的 CCD 光譜輻射計(jì)。用于集成到前端和后端 LED 測試的測試系統(tǒng)中的模塊。 | ||
| 校準(zhǔn) | 工廠校準(zhǔn)。可追溯至國際校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) | ||
| （2）產(chǎn)品 | |||
| 典型應(yīng)用 | 用于光譜輻照度、紅斑等的照度計(jì) | ||
| 測量數(shù)量 | 光譜輻照度 (W/(m2 nm))、輻照度 (W/m2)、峰值波長、中心波長、質(zhì)心波長、紅斑?？蛇x積分球：另外光譜輻射功率 (W/nm) 和輻射功率 (W) | ||
| 輸入光學(xué)器件 | 擴(kuò)散器，余弦校正視場 (f2 ≤ 3 %) | ||
| 濾光輪 | 4 個位置（打開、關(guān)閉、光學(xué)濾鏡）。用于遠(yuǎn)程暗電流測量和雜散光減少。 | ||
| BiTec | 可以使用二極管和陣列進(jìn)行并行測量，從而通過二極管對陣列進(jìn)行線性校正，并分別通過a*(s z ( λ )) F*(s z ( λ )) 在線校正二極管的光譜失配。 | ||
| 測量模式 | 標(biāo)準(zhǔn)測量模式：200 nm 至 430 nm； 超出范圍雜散光校正測量模式 (OoR SLC)：200 nm 至 430 nm； 雜散光校正帶通測量模式 (BP SLC)：300 nm 至 386 nm。 | ||
| 校準(zhǔn)不確定度 | 光譜輻照度
光譜輻照度響應(yīng)度 (200 - 430) nm | ||
| （3）光譜探測器 | |||
| 積分時(shí)間 | 2μs - 60s *1 | 光譜范圍 | (190 - 430) 納米 |
| 光帶寬 | 0.8納米 | 像素分辨率 | ~0.13 納米/像素 |
| 像素?cái)?shù) | 2048 | 芯片 | 高靈敏度背照式 CCD 芯片，一級冷卻 (1TEC) |
| 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 | 16 位（25 ns 指令周期時(shí)間） | 峰值波長 | ±0.05納米 |
| 帶通校正 | 支持?jǐn)?shù)學(xué)在線帶通校正 | 線性度 | 完全線性化芯片>99.6% |
| 雜散光 | Out of Bound method < 1E-4 *3 | 基線噪聲 | 5 cts *4 |
| 信噪比 | 5000 *5 | 動態(tài)范圍 | >9 震級 |
| 光譜響應(yīng)度 | (3E-5 - 3E4) W/(m2nm) @325nm *6*7 | ||
| 典型測量時(shí)間 | W/m2 of a Halogen lampe from (250 - 400) nm
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| （4）一體式探測器 | |||
| 測量時(shí)間 | (0.1 - 6000) 毫秒 | 校準(zhǔn) | 輻照度±6%* 10 |
| 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 | 16位 | 測量范圍 | 可選：(5E-3 - 2E5) W/m2 * 11 |
| 測量范圍 | 七 (7) 個測量范圍，具有卓越的偏移校正功能 | ||
| 篩選 | 可選：對 220 nm 至 360 nm 范圍內(nèi)的矩形函數(shù)的響應(yīng)度進(jìn)行數(shù)學(xué)調(diào)整（使用測得的光譜數(shù)據(jù)對輻射函數(shù)進(jìn)行 SMCF 在線校正）。* * 二極管的光譜響應(yīng)度不對應(yīng)于矩形函數(shù)（光學(xué)濾波器不可能）。當(dāng)測量光譜偏離積分檢測器（UV LED，峰值為 405 nm）的光源時(shí)，使用 SMCF 校正測量結(jié)果。該校正的不確定性取決于測量光譜（噪聲）的質(zhì)量和校正因子（光譜范圍）的大小。 | ||
| （5）圖表 | |||
| 光譜響應(yīng)度 | |||
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| f2（方向響應(yīng)/余弦誤差） | |||
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| （6）其它參數(shù) | |||
| 微處理器 | 32位用于設(shè)備控制，16位用于CCD陣列控制，8位用于光電二極管控制 | ||
| 接口 | USB V2.0、以太網(wǎng)（LAN UDP協(xié)議）、RS232、RS485 | ||
| 數(shù)據(jù)傳輸 | 標(biāo)準(zhǔn)為 2048 個浮點(diǎn)數(shù)組值，通過以太網(wǎng) 7ms，通過 USB 2.0 140 ms | ||
| 輸入接口 | 2x (0 - 25) VDC，1x 光電耦合器隔離 5 V / 5 mA | ||
| 輸出接口 | 最大 2x 集電極開路最大 25V 500毫安 | ||
| 扳機(jī) | 合并觸發(fā)輸入（不同選項(xiàng)、上升/下降沿、延遲等） | ||
| 軟件 | 用戶軟件 S-BTS2048 可選軟件開發(fā)套件 S-SDK-BTS2048，用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中的 .dll 進(jìn)行用戶軟件設(shè)置。 | ||
| 電源 | 帶電源：直流輸入 5V (±10 %) @ 700 mA 帶 USB 總線 (500mA) *8 | ||
| 尺寸 | 103毫米×107毫米×52毫米（長×寬×高） | 重量 | 500克 |
| 安裝 | 三腳架和 M6 螺紋； 前適配器 UMPA-1.0-HL，與積分球端口框架 UMPF-1.0-HL 配合使用。 | 溫度范圍 | 儲存：（-10 至 50）℃ 操作：（10 至 30）°C *9 |
| 信息 | *1 建議對積分時(shí)間的每次變化執(zhí)行新的暗信號測量。 *2典型值，主波長的不確定度取決于LED的光譜分布。 *3 典型值，在具有深藍(lán)色 LED 峰值的冷白寬帶 LED 峰值左側(cè) 100 nm 處測量。 *4 *5 典型值是在未對 4ms 測量時(shí)間和陣列滿量程控制進(jìn)行平均的情況下測得的。平均導(dǎo)致 S/N 二次上升，即基礎(chǔ)噪聲二次下降，例如平均到 100 倍，S/N 提高 10 倍。 *6 最小 500/1 序列號。全量程控制下的最大值。 *7 只允許短時(shí)間照射，以避免熱損傷。 *8 在 USB 連接期間，由于電流供應(yīng)有限，并非所有功能都可用，例如沒有以太網(wǎng)和 TEC 冷卻。 *9 大約需要溫度穩(wěn)定裝置。 25分鐘在預(yù)熱階段進(jìn)行測量，或者如果在變化的溫度下進(jìn)行測量，則每次測量都需要進(jìn)行暗信號測量。 *10 使用氘燈進(jìn)行 (Z) 校正。 *11 根據(jù)氘燈的光譜功率分布，僅允許短時(shí)間的最大輻射，以避免熱損壞。 | ||
? S-SDK-BTS2048：BTS2048 變體的軟件開發(fā)套件。
? GB-GD-360-RB40：用于測量 2π 源的測角儀。
? BTS2048-UV-S：使用這款高品質(zhì)緊湊型光譜輻射計(jì)進(jìn)行紫外測量。
? GB-GD-360-RB40-2-BTS2048-UV：實(shí)現(xiàn)紫外線消毒燈的高光譜雜散光抑制。
? BTS2048系列：緊湊型光譜輻射計(jì)具有出色的光學(xué)性能和 BiTec 技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場使用的精確測量。
